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Product Center

產(chǎn)品中心

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  • 分光輻射照度測量系統(tǒng)

    該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

    更新日期:2024-08-30
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

    ●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 ●采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 ●可進(jìn)行高速的即時研磨檢測 ●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測 ●可對應(yīng)長工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線或者設(shè)備中 ●體積小、省空間、設(shè)備安裝簡易 ●可對應(yīng)線上檢測的外部信號觸發(fā)需求 ●采用最適shi合膜厚檢測的獨自解析演算法。(已取得專zhuan利) ●可自動進(jìn)行膜厚分布制圖(選配項目)

    更新日期:2024-08-30
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 光波場三維顯微鏡 MINUK

    MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設(shè)備,可以單次獲取高度方向的信息,并且可以無損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測量。 此外,還可以高速掃描任何表面并確定測量位置,而無需對焦。

    更新日期:2024-08-30
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE

    本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途,可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。

    更新日期:2024-08-30
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE

    ● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 ● 通過溫度梯度功能,可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析

    更新日期:2024-08-30
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

    ELSZ series的最zu高級機(jī)型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能,為了提高粒度分布的分離能力,采用了多角度測定。另外,也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池,通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層,可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量。

    更新日期:2024-08-30
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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