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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 光譜系統(tǒng) > 顯微缺陷膜厚 > 高速相位差測量裝置 RE-200
簡要描述：● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理）● 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高● 設(shè)置的測量項目少，測量簡單● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長● Rth測量、全quan方位角測量（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性(本系統(tǒng)屬特注。）
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-08-30訪 問 量：98產(chǎn)品中心
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
|---|
● 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[deg.]）
● 橢圓率（ε）?方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）
● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）
● 什么是RE-200
● RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。
執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ。
| 型號 | RE series |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 最小10×10mm ～最大100×100mm |
| 測量波長 | 550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1 |
| 相位差測量范圍 | 約0nm ～約1μm |
| 軸檢出重復(fù)精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
| 檢出器 | 偏光計測模塊 |
| 測量光斑直徑 | 2.2mm×2.2mm |
| 光源 | 100W 鹵素?zé)艋?LED光源 |
| 本體?重量 | 300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg |
Option
● Rth測量、全quan方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）
● 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
視角改善膜A
視角改善膜B
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