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高速相位差測量裝置 RE-200

簡要描述:● 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理)
● 無驅(qū)動部,重復(fù)再現(xiàn)性高
● 設(shè)置的測量項目少,測量簡單
● 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
● Rth測量、全quan方位角測量
(需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。)

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-30
  • 訪  問  量:98

推薦產(chǎn)品

詳細(xì)介紹

品牌OTSUKA/日本大冢

產(chǎn)品信息

測量項目

● 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
● 主軸方位角(θ[deg.])
● 橢圓率(ε)?方位角(γ)
● 三次元折射率(NxNyNz)

用 途

● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料(玻璃有變形,歪曲等)

原 理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子結(jié)晶素子(偏光素子)、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu),系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造,長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

高速相位差測量裝置 RE-200
執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ。

 

高速相位差測量裝置 RE-200

規(guī) 格

型號RE series
樣品尺寸最小10×10mm ~最大100×100mm
測量波長550nm (標(biāo)準(zhǔn)仕樣)※1
相位差測量范圍約0nm ~約1μm
軸檢出重復(fù)精度0.05°(at 3σ) ※2
檢出器偏光計測模塊
測量光斑直徑2.2mm×2.2mm
光源100W 鹵素?zé)艋?LED光源
本體?重量300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

Option
● Rth測量、全quan方位角測量※治具本體(旋轉(zhuǎn):180°, 傾斜:±50°)
● 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具

高速相位差測量裝置 RE-200高速相位差測量裝置 RE-200

測量示例

視角改善膜A

高速相位差測量裝置 RE-200

視角改善膜B

高速相位差測量裝置 RE-200


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