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簡(jiǎn)要描述：●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè)●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已取得專zhuan利）●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量（500萬(wàn)點(diǎn)以上/分）
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-08-30訪 問(wèn) 量：73產(chǎn)品中心
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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250mm寬的薄膜案例
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。
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