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產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  光譜系統(tǒng)  >  顯微缺陷膜厚

  • 紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

    ●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍 ●具有紫外線自吸收校正的高精度測量 ●配備溫度控制單元,可從-110°C進(jìn)行溫度控制 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制

    更新日期:2024-08-30
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 相位差測量裝置 RETS-100nx New

    采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

    更新日期:2024-08-30
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series

    采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

    更新日期:2024-08-30
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 橢偏儀 FE-5000/5000S

    ●可在紫外和可見(250至800nm)波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) ●可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度 ●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜 ●通過可變反射角測量,可詳細(xì)分析薄膜 ●通過創(chuàng)建光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫和追加菜單注冊(cè)功能,增強(qiáng)操作便利性 ●通過層膜貼合分析的光學(xué)常數(shù)測量可控制膜厚度/膜質(zhì)量

    更新日期:2024-08-30
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series

    ●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 ●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) ●采用新的探測器,可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測量 ●測量部分的尺寸(積分球或積分半球)從φ250毫米到φ3000毫米都能對(duì)應(yīng) ●支持LIV測量,脈沖點(diǎn)測量,樣品溫度測量 ●兼容脈沖寬度調(diào)制(PWM)調(diào)光

    更新日期:2024-08-30
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES

    以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置

    更新日期:2024-08-30
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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