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當(dāng)前位置：首頁(yè)  >  產(chǎn)品中心  >  半導(dǎo)體材料測(cè)試  >  半導(dǎo)體多功能測(cè)試

  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測(cè)試系統(tǒng)

    WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對(duì)超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。

    更新日期：2024-08-30
    型號(hào)：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • WT-2000半導(dǎo)體多功能測(cè)試

    WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測(cè)試。

    更新日期：2024-08-30
    型號(hào)：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • WT-1200A 單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng)

    WT-1200A 是單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，具備無(wú)接觸等優(yōu)點(diǎn)。

    更新日期：2024-08-30
    型號(hào)：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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