最新国模无码国产在线视频_日本中国内射BBXX_亚洲国产欧美日韩精品小说_精品久久久久久久妇女_花季传媒每天免费一次在哪下载

Product Center

產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置：首頁  >  產(chǎn)品中心  >  半導(dǎo)體材料測試  >  CV測試

  • LEI Model2017B汞探針測試

    LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

    更新日期：2024-09-03
    型號：LEI Model2017B
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 汞CV測試系統(tǒng)

    汞CV測試系統(tǒng)，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。

    更新日期：2024-09-02
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng)

    CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測試。

    更新日期：2024-09-02
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
共 3 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁 
全國客服
咨詢熱線 021-61052039 在線留言

公司地址：上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造J6區(qū)202室
公司郵箱：qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 版權(quán)所有    備案號：滬ICP備19020138號-2    sitemap.xml    技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)    管理登陸