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簡(jiǎn)要描述:CV-1500,用于測(cè)試界面和介電層的科研平臺(tái),基于SDI Corona-Kelvin技術(shù),可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測(cè)試。
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品牌 | 波銘科儀 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
Semiconductor Surface Barrier-Vsb 表面勢(shì)壘
Oxide Total Charge -Qtot 氧化物總電荷
Interface Trapped Charge-Qit 界面電荷
Interface Trap Density-Dit 界面態(tài)密度
Di Spectrum:Dit vs. Vsb
Dielectric Capacitance -CD and thickness -CET 介電層電容和電學(xué)總厚度
Dielectric Leakage 介電層漏電
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。
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