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產(chǎn)品中心

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  • 納米壓痕測試設(shè)備
    納米壓痕測試設(shè)備

    對小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測試的關(guān)鍵技術(shù)。

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  • 拉曼光譜分析
    拉曼光譜分析

    拉曼光譜用來測試材料應(yīng)力,摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移,強(qiáng)度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向,組分,機(jī)械應(yīng)力,摻雜和溫度變化等。

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  • 原子力顯微鏡
    原子力顯微鏡

    原子力顯微鏡使用非常小的探針,掃描樣品表面,在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備,可靈活配置和測試,具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。

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  • 反射譜成像技術(shù)
    反射譜成像技術(shù)

    iSR是一種微光斑測試技術(shù),用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試

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  • 光譜型橢偏儀
    光譜型橢偏儀

    光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統(tǒng),適合各種薄材料的研究。

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  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)
    少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)

    WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被廣泛用于化合物材料的缺陷,雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。

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  • WT-2000半導(dǎo)體多功能測試
    WT-2000半導(dǎo)體多功能測試

    WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激發(fā)光,適合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測試。

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  • WT-1200A 單點式少子壽命測試系統(tǒng)
    WT-1200A 單點式少子壽命測試系統(tǒng)

    WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統(tǒng),具備無接觸等優(yōu)點。

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  • 高速相位差測量裝置 RE-200
    高速相位差測量裝置 RE-200

    ● 可測從0nm開始的低(殘留)相位差● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)(相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理)● 無驅(qū)動部,重復(fù)再現(xiàn)性高● 設(shè)置的測量項目少,測量簡單● 測量波長...

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  • 高速LED光學(xué)特性儀 LE series
    高速LED光學(xué)特性儀 LE series

    ●與產(chǎn)線的控制信號同步●通過光纖的自由的測試系統(tǒng)●實現(xiàn)最短2ms~的光譜測量(LE-5400)●同以往的產(chǎn)品相比,測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型

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  • 高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng) QE-5000
    高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng) QE-5000

    可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測量。

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  • 高感度分光輻射亮度計 HS-1000
    高感度分光輻射亮度計 HS-1000

    采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵),0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量,對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍(355 nm至835 nm)獨du特光...

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