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測(cè)量精度高可瞬間測(cè)量絕對(duì)量子效率（絕對(duì)量子收率）可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)

薄膜到厚膜的測(cè)量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀藉由絕對(duì)反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能無(wú)復(fù)雜設(shè)定，操作簡(jiǎn)單

可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。

●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè)●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已取得專(zhuān)zhuan利）●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量（500萬(wàn)點(diǎn)以上/分）

●采用線(xiàn)掃描方式檢測(cè)整面薄膜●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取專(zhuān)zhuan利）●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量●不受偏差影響●可對(duì)應(yīng)寬幅樣品（TD方向最大可測(cè)量...

●通過(guò)分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量●從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開(kāi)度、光束光通量●涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(zhǎng)范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品●用軟件批量控制電源和測(cè)...

●該檢測(cè)器是一種高性能的分光光度計(jì)，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過(guò)程測(cè)量等方面取得了多項(xiàng)成果。●覆蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的寬波長(zhǎng)范圍●帶軟件的樣品照明電源，測(cè)量?jī)x器批量控制●LIV測(cè)量，脈沖點(diǎn)測(cè)量，樣品溫...

●具有高靈敏度檢測(cè)器的寬測(cè)量范圍●具有紫外線(xiàn)自吸收校正的高精度測(cè)量●配備溫度控制單元，可從-110°C進(jìn)行溫度控制●涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(zhǎng)范圍●電源、溫控單元、測(cè)量?jī)x軟件批量控制

采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

●可在紫外和可見(jiàn)（250至800nm）波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù)●可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度●可以通過(guò)超過(guò)400ch的多通道光譜快速測(cè)量Ellipso光譜●通過(guò)可變反射角測(cè)量，可詳細(xì)分析薄膜●通過(guò)創(chuàng)建光學(xué)...

●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測(cè)量●測(cè)量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn)●采用新的探測(cè)器，可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量●測(cè)量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ25...